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X-RAY检测方法介绍

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发表时间:2017-02-10 09:19

摘要:

   本文通过客户提供的测试样品,对样品指定位置上使用X-RAY射线进行检测试验。通过X-RAY射线分析评估气泡的大小和位置,线路板等内部位移的分析;判别空焊,虚焊等焊接缺陷。


1. X-RAY的定义

   X射线是一种波长很短的电磁波,波长范围为0.0006一80nm,具有很强的穿透力,能穿透一般可见光不能穿透的各种不同密度的物质。

X-Ray射线分析仪

   X射线原理:X光射线 (以下简称X-Ray) 是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式放出,其具有非常短的波长但高电磁辐射线。而对于样品无法以外观方式检测之位置,利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生之对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题之区域。


2. X-RAY射线的应用

a.使用目的:金属材料及零部件、塑胶材料及零部件、电子元器件、电子组件、LED元件等内部的裂纹、异物的缺陷检测,BGA、线路板等内部位移的分析;判别空焊,虚焊等BGA焊接缺陷,微电子系统和胶封元件,电缆,装具,塑料件内部情况分析。

b.应用范围:

1) IC封装中的缺陷检验如:层剥离、爆裂、空洞以及打线的完整性检验;

2) 印刷电路板制程中可能产生的缺陷,如:对齐不良或桥接以及开路;

3) SMT焊点空洞现象检测与量测;

4) 各式连接线路中可能产生的开路,短路或不正常连接的缺陷检验;

5) 锡球数组封装及覆芯片封装中锡球的完整性检验;

6) 密度较高的塑料材质破裂或金属材质空洞检验;

7) 芯片尺寸量测,打线线弧量测,组件吃锡面积比例量测。

测试步骤:确认样品类型/材料的测试位置和要求→将样品放入X-Ray透视仪的检测台→图片判断分析→标注缺陷类型和位置。但是由于材料性质,设备会受到一定的限制,如IC封装中是铝线或材料材质密度较低会被穿透而无法检查。

3. 参考标准

5135Z-SX8-T000 焊接强度试验基准

GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序

IPC-A-610E-2010 中文版 电子组件的可接受性-3部分

4. 测试案例

   由客户提供的LED灯、数据线、导线,通过X-RAY射线对样品内部进行剖析,通过对比和分析,进而对样品进行失效判断。测试信息如下图:

 LED灯X-Ray射线分析
 LED灯X-Ray射线分析
 数据线X-Ray分析
 数据线X-Ray分析
 导线X-Ray分析
 导线X-Ray分析